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Andamento morfologico dei rifrattori |
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Andamento morfologico dei rifrattori |
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Dall'interpretazione col metodo GRM vengono determinate le velocità medie negli strati e lo spessore di ogni rifrattore al di sotto del geofono. Tale spessore rappresenta la profondità minima dal geofono dunque la morfologia del rifrattore è definita dall'invilippo delle semicirconferenze.
I centri delle circonferenze utili alla determinazione della morfologia dei rifrattori coincidono con i gefoni reali solo quando XY = 0. Infatti, per XY = d (posto che d sia la distanza reale tra i geofoni) le posizioni G, intermedie tra X ed Y, sono in corrispondenza dei punti intermedi dei geofoni reali; per XY = 2d, le posizioni G sono in numero inferiore ai geofoni reali ma risultano posizionate in corrispondenza di alcuni sensori fisici etc. |
Attraverso le opzioni del menù disegno è possibile modificare alcune proprietà del grafico ed aggiungere un testo personalizzato.
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